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全波段光譜測量系統
產品簡介

全波段光譜測量系統，透射角分布測量，不同的光譜范圍可能需要不同的光學光路設計結構，雙層平臺獨立旋轉，重復定位精度0.005°，分辨率0.00125°

產品型號：
更新時間：2024-05-20
廠商性質：生產廠家
訪問量：4643
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光譜角分布測量系統

 全波段光譜透過率測量，透射角分布測量

 全波段光譜反射率測量，反射角分布測量

 波長范圍:200nm-IR

 不同的光譜范圍可能需要不同的光學光路設計結構

 雙層平臺獨立旋轉，重復定位精度0.005°，分辨率0.00125°

 樣品置于上層旋臺，探測器置于下層旋臺，樣品和探測器可以任意角度工作

 臺面上放置一個五維調整鏡座，可將樣品調整到旋臺的旋轉中心并且垂直于臺面

 功能擴展：測量光柵衍射效率

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